更新日期:2020-10-08
三箱冷热冲击测试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化。
品牌 | 豪恩 | 加工定制 | 是 |
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分类 | 冲击试验箱 |
三箱冷热冲击测试箱
简介
三箱冷热冲击测试箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在zuì短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。
用途
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
主要技术参数
环境条件 环境温度为+5~+28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下(即空载时)
测试方法 GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001
规格型号 HE-LR-80S
内箱容量 80升
内箱尺寸 宽500×高400×深400(MM)
外形尺寸 宽1500×高1850×深1500(MM)
设备总重量约 600Kg
使用电源 AC 三相 五线 380V 50HZ
总功率约 23KW
隔层架 2个(承重20kg)
高低温区温度范围 1.高温区部分:RT(常温)~+180℃
2.低温区部分:RT(常温)~-65℃
温度测试范围 1.高温:+60℃~+150℃
2.低温:-10℃~-40℃
高低温转换时间 ≤10S
高低温恢复时间 3~5min(非线性空载下)
解析度 ±0.1℃
控制精度 ±0.5℃
温度偏差 ±2.0℃
预热区升温速度 ≤30分钟
预冷区降温速度 ≤80分钟
温度暴露时间 高温区,低温区各30分钟
标准依据
1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;
4. GJB150.3-86;
5. GJB150.4-86;
6. GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86温度冲击试验;
8、GJB360.7-87温度冲击试验;
9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;
11、GB/T 2423.22-2002温度变化;
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。